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0. Grundlegung -- 0.1. Variablen und deren Skalierung -- 0.2. Objektivität, Reliabilität und Validität von Meßverfahren -- 0.3. Stichproben und Grundgesamtheiten -- 1. Einige Methodische Grundlagen der Statistischen PrÜfung von Hypothesen -- 1.1. Einige Grundbegriffe -- 1.2. Die Prüfung von Parameterhypothesen bei zweiseitigen Fragestellungen -- 1.3. Einseitige Fragestellungen -- 1.4. Fehler erster und zweiter Art; Gütefunktion und Operationscharakteristik eines Tests -- 1.5. Beste Teste und gleichmäßig beste Teste -- 1.6. Likelihood-Quotienten-Teste -- 1.7. Konsistenz und Unverzerrtheit von Testen -- 1.8. Testvergleiche -- 1.9. Merkmale und Vorteile verteilungsfreier Prüfverfahren -- 1.10. Einige Bemerkungen zur Robustheit verteilungsgebundener Prüfverfahren -- 1.11. Generelle technische Probleme der Durchführung von Prüfverfahren bei diskreten Prüfverteilungen -- 1.12. Bindungen (Verbundwerte) -- 1.13. Allgemeine Probleme der Anwendung statistischer Teste -- 2. Verteilungsfreie Prüfverfahren Zum Ein-Stichproben-Fall -- 2.1. Prüfung der Zufälligkeit einer Stichprobenentnahme -- 2.2. Anpassungsteste zum Ein-Stichproben-Fall -- 2.3. Lokalisationsteste zum Ein-Stichproben-Fall -- 3. Verteilungsfreie PrÜfverfahren zum Zwei-Stichproben-Fall Bei UnabhÄngigen Stichproben -- 3.1. Verschiedene Anwendungsmodelle zum Zwei-Stichproben-Fall bei unabhängigen Stichproben -- 3.2. Verteilungsfreier Lokalisationsvergleich bei zwei unabhängigen Stichproben -- 3.3. Verteilungsfreier Streuungsvergleich bei zwei unabhängigen Stichproben -- 3.4. Das gemeinsame Konstruktionsprinzip der behandelten Teste -- 3.5. Verteilungsvergleich bei zwei unabhängigen Stichproben -- 4. Verteilungsfreie PrÜfverfahren zum Zwei-Stichproben-Fall (Verbundene Stichproben) -- 4.1. Zwei verbundene Stichproben -- 4.2. Verteilungsfreier Lokalisationsvergleich bei zwei verbundenen Stichproben -- 4.3. Rangkorrelationskoeffizienten -- 4.4. Der x2-Unabhängigkeitstest -- 5. Verteilungsfreie PrÜfverfahren zum k-Stichproben-Fall -- 5.1. Verteilungsfreier Lokalisationsvergleich bei k unabhängigen Stichproben (Einfach-Klassifikation) -- 5.2. Verteilungsfreier Lokalisationsvergleich bei k abhängigen Stichproben (zufällige Blockdesigns) -- 5.3. Verteilungsfreie multiple Lokalisationsvergleiche zum k-Stichproben-Fall -- 6. GrÜndfragen des Einsatzes von Testen in den Anwendungen -- 6.1. Die Formulierung der Nullhypothese -- 6.2. Die Auswahl des adäquaten Prüfverfahrens -- 6.3. Die Festlegung von Fehlerwahrscheinlichkeiten, insbesondere des Signifikanzniveaus -- 6.4. Die Datengrundlage von Testen -- 7. Tabellenanhang -- Tabelle I: Standardnormalverteilung -- Tabelle II: Quantile der Standardnormalverteilung (Kurzfassung) -- Tabelle V: 0,975-Quantile der F-Verteilung -- Tabelle VI: Obere Quantile der t-Verteilung -- Tabelle VII: Ausschnitt aus einer (Pseudo-) Zufallszahlentafel -- Tabelle VIII: Kritische Werte beim einfachen Run-Test -- Tabelle IX: Kritische Werte beim Zufälligkeitstest mit Hilfe der Anzahl der Runs Up or Down -- Tabelle X: Kritische Werte der Prüfvariablen des OSTests (0,025- und 0,975-Quantile der Betaverteilung) -- Tabelle XI: Kritische Werte beim Kolmogorov-Smirnov-Ein-Stichproben-Test -- Tabelle XII: Binomialverteilung mit 0 = 0 -- Tabelle XIII: Kritische Werte beim Vorzeichen-Rang-Test von Wilooxon -- Tabelle XIV: Kritische Werte beim Wilcoxon-Mann-Whitney-Test -- Tabelle XV: Expected normal scores -- Tabelle XVI: Kritische Werte beim Fisher-Yates-Test -- Tabelle XVII: Obere Quantile der Standardnormalverteilung(ausführliche Fassung) -- Tabelle XVIII: Kritische Werte beim X-Test von van der Waerden -- Tabelle XIX: Hilfstabelle zur Durchführung des X-Tests von van der Waerden -- Tabelle XX: Kritische Werte bei Fishers Exact Probability Test -- Tabelle XXI: Kritische Werte beim Kolmogorov-Smirnov-Zwei-Stichproben-Test -- Tabelle XXII: Kritische Werte zur Unabhängigkeitsprüfung mit Hilfe des Spearman-Pearsonschen Rangkorrelationskoeffizienten -- Tabelle XXIII: Kritische Werte zur Unabhängigkeitsprüfung mit Hilfe des Ken dal Ischen Rangkorrelationskoeffizienten -- Tabelle XXIV: Kritische Werte beim Kruskal-Wallis-Test -- Tabelle XXV: Kritische Werte beim Jonckheere-Test -- Tabelle XXVI: Kritische Werte beim Friedman-Test -- Tabelle XXVII: Kritische Werte beim Test von Page -- Tabelle XXVIII: Obere Quantile der Spannweite von n unabhängigen standardnormalverteilten Variablen -- Tabelle XXIX: Obere Quantile der Verteilung des Maximums von n standardnormalverteilten Zufallsvariablen, welche je mit ? = 0,5 korreliert sind -- Autorenverzeichnis.

Der Autor stellt ein Modell vor, das mittels eines Merkmalsrasters die aktuelle und künftige Mitarbeiterqualität beschreibt und bewertet. Das Ergebnis des Vergleichs der situationsadäquaten Mitarbeiterqualität (Soll) und der vorhandenen Mitarbeiterqualität (IST) ist der Ausgangspunkt der Maßnahmen zur Veränderung der Persönlichkeits- und/oder Leistungsstruktur des Mitarbeiters bzw.. der Mitarbeiterin. (IAB)

Eduard Gaugler/Hans Günther Meissner/Norbert Thom (Herausgeber): Zukunftsaspekte der anwendungsorientierten Betriebswirtschaftslehre. C. E. Poeschel Verlag, Stuttgart 1986, 641 Seiten, 98 DM