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Open Access#482016

Overoptimism and house price bubbles

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Open Access#582017

Characterization of voids in shock-loaded Al single crystal by combining X-ray tomography and electron microscopy

In: Hong , C , Fæster , S , Hansen , N , Huang , X & Barabash , R I 2017 , ' Characterization of voids in shock-loaded Al single crystal by combining X-ray tomography and electron microscopy ' , I O P Conference Series: Materials Science and Engineering , vol. 219 . https://doi.org/10.1088/1757-899X/219/1/012027

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