Aufsatz(elektronisch)#15. Mai 2016
Solution for rank-defect EIV model based on TLS estimation
In: Survey review, Band 49, Heft 354, S. 171-175
ISSN: 1752-2706
3 Ergebnisse
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In: Survey review, Band 49, Heft 354, S. 171-175
ISSN: 1752-2706
In: Survey review, Band 48, Heft 348, S. 181-187
ISSN: 1752-2706
In: Advances in applied ceramics: structural, functional and bioceramics, Band 113, Heft 3, S. 153-158
ISSN: 1743-6761